[发明专利]导电膜均匀性检测装置、系统以及方法在审
| 申请号： | 201811633328.1 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109540971A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 吴祯琪;刘兆平 | 申请（专利权）人： | 宁波石墨烯创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 苏胜 |
| 地址： | 315000 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及导电膜领域，具体而言，涉及一种导电膜均匀性检测装置、系统以及方法。该装置包括多个测试头、测试装置以及数据收集分析装置。多个测试头间隔设置，每一个测试头均被配置为用于接触在导电膜上。每一个测试头均电连接于测试装置，测试装置被配置为用于检测位于每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能参数。分析装置电连接于测试装置，用于根据测试装置测得的电性能参数判断导电膜的电阻均匀性。将多个测试头间隔设置，能够测量每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能，从而获得导电膜多个小区域的电性能参数，进而对整个导电膜的均匀性作出评价。该装置，操作简单，测试的准确性高。 | ||
| 搜索关键词： | 导电膜 测试头 测试装置 电性能参数 均匀性检测装置 分析装置 间隔设置 电连接 电阻均匀性 数据收集 电性能 均匀性 小区域 配置 测量 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种导电膜均匀性检测装置，其特征在于，包括：多个测试头，多个所述测试头间隔设置，每一个所述测试头均被配置为用于接触在导电膜上；测试装置，每一个所述测试头均电连接于所述测试装置，所述测试装置被配置为用于检测位于每相邻的两个所述测试头之间的所述导电膜的电性能参数；以及数据收集分析装置，电连接于所述测试装置，用于根据所述测试装置测得的所述电性能参数判断所述导电膜的电阻均匀性。
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