[发明专利]一种物质识别方法、装置和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201811641147.3 | 申请日： | 2018-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109709062B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 程良伦;邓广水;何伟健;李学识 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G06F17/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种物质识别方法，包括：对目标物质进行太赫兹测量，获得目标光谱曲线；获取目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积，获取目标光谱曲线与各个上基线对应的下基线围成的下基线面积；将上基线面积和与下基线面积进行求和计算得到域外区域面积；根据域外区域面积和与域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据，并确定最大相似度数据；若最大相似度数据大于预设阈值，则确定目标物质是与最大相似度数据对应的标准物质。本申请提高物质检测的准确性，改善用户体验。本申请同时还提供了一种物质识别装置、电子设备和计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物质 识别 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种物质识别方法，其特征在于，包括：对目标物质进行太赫兹测量，获得目标光谱曲线；获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积，获取所述目标光谱曲线与各个所述上基线对应的下基线围成的下基线面积；将所述上基线面积和与所述下基线面积进行求和计算得到域外区域面积；根据所述域外区域面积和与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据，并确定最大相似度数据；其中，所述特征区域面积是所述上基线和所述下基线围成的面积；若所述最大相似度数据大于预设阈值，则确定所述目标物质是与所述最大相似度数据对应的标准物质。
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