[发明专利]一种扫描式基片表面检测方法和装置在审

专利信息
申请号: 201811643903.6 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109490148A 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 李文涛;陈子天;李晓龙 申请(专利权)人: 赛纳生物科技(北京)有限公司
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00;G01B13/22
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 肖佳
地址: 100744 北京市大兴区北京经*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种扫描式基片表面检测方法和装置,利用液滴在基片表面的运动检测基片的均匀性,方法设备简单,不对基片表面造成损伤,适合于核心区域的定点检测以及常规检测。在检测的过程中,基片倾斜一定的角度,液滴在基片的表面并不主动滑落,用牵引装置牵引液滴运动。运动的过程中,经过需要检测的区域,通过液滴的形态变化判断基片表面的均匀性。
搜索关键词: 基片表面 检测 液滴 方法和装置 均匀性 扫描式 常规检测 核心区域 牵引装置 形态变化 运动检测 牵引液 滑落 损伤
【主权项】:
1.一种扫描式基片表面检测方法,其特征在于,基片倾斜,在基片的表面加第一液体液滴;将牵引装置和第一液体接触,以牵引装置引导第一液体运动;通过第一液体液滴运动的状态检测基片表面的均匀性;其中,所述第一液体液滴在重力的作用下不主动滑落;所述第一液体液滴在牵引装置的作用下运动。
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