[实用新型]一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统有效
| 申请号： | 201820131610.9 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN207764300U | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 刘梓轩;邱文才;张辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人： | 何婷 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及通信授时领域，提供了一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统。装置包括至少两个被测源、与被测源一一对应的整形模块、FPGA以及参考源；整形模块与被测源连接，整形模块包括至少两路整形电路，用于对被测源的信号进行整形；FPGA与整形模块连接，用于计算至少两个被测源两两之间的相位差；参考源与FPGA连接，用于为FPGA提供标准的参考频率，参考频率通过分频得到FPGA所需的多个频率。通过设置至少两路整形电路的整形模块以及与整形模块连接的FPGA来实现至少两个被测源两两之间的相位测量，以达到测试环境搭建简单、设备精简、成本较低且提升工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 整形模块 被测源 相位测量系统 相位测量装置 参考频率 电子设备 整形电路 参考源 两路 本实用新型 测试环境 工作效率 相位测量 相位差 整形 分频 通信 | ||
【主权项】：
1.一种相位测量装置，其特征在于，所述装置包括：至少两个被测源、与所述被测源一一对应的整形模块、FPGA以及参考源；所述整形模块与所述被测源连接，所述整形模块包括至少两路整形电路，用于对被测源的信号进行整形；所述FPGA与所述整形模块连接，用于计算所述至少两个被测源两两之间的相位差；所述参考源与所述FPGA连接，用于为所述FPGA提供标准的参考频率，所述参考频率通过分频得到所述FPGA所需的多个频率。
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