[实用新型]一种数字锁相环测试适配器有效

专利信息
申请号: 201820142442.3 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN207798883U 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 石雪梅;李盛杰;刘敦伟;罗晶;顾颖 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 王刚
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种数字锁相环测试适配器,基于ATE测试系统V93000,用于适配数字锁相环MC74HC4046,包括:连接器、继电控制器以及电容电阻阵列;所述连接器与测试系统母版相连;所述电容电阻阵列与被测器件相连;所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容,与所述被测器件相连。通过继电控制器控制选择不同的电容电阻组合,适用于数字锁相环不同频率测试,通用性好,能够满足数字PLL器件MC74HC4046的所有输出时钟信号测试要求,进而节约了生产成本。
搜索关键词: 数字锁相环 电容电阻 继电控制器 连接器 测试适配器 被测器件 输出时钟信号 本实用新型 测试系统 测试要求 频率测试 阵列选择 电容 电阻 母版 适配 生产成本 节约
【主权项】:
1.一种数字锁相环测试适配器,基于ATE测试系统V93000,其特征在于,用于适配数字锁相环MC74HC4046,包括:连接器、继电控制器以及电容电阻阵列;所述连接器与测试系统母版相连;所述电容电阻阵列与被测器件相连;所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容,与所述被测器件相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工防御技术研究试验中心,未经航天科工防御技术研究试验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201820142442.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top