[实用新型]一种数字锁相环测试适配器有效
申请号: | 201820142442.3 | 申请日: | 2018-01-26 |
公开(公告)号: | CN207798883U | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 石雪梅;李盛杰;刘敦伟;罗晶;顾颖 | 申请(专利权)人: | 航天科工防御技术研究试验中心 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 王刚 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种数字锁相环测试适配器,基于ATE测试系统V93000,用于适配数字锁相环MC74HC4046,包括:连接器、继电控制器以及电容电阻阵列;所述连接器与测试系统母版相连;所述电容电阻阵列与被测器件相连;所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容,与所述被测器件相连。通过继电控制器控制选择不同的电容电阻组合,适用于数字锁相环不同频率测试,通用性好,能够满足数字PLL器件MC74HC4046的所有输出时钟信号测试要求,进而节约了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 数字锁相环 电容电阻 继电控制器 连接器 测试适配器 被测器件 输出时钟信号 本实用新型 测试系统 测试要求 频率测试 阵列选择 电容 电阻 母版 适配 生产成本 节约 | ||
【主权项】:
1.一种数字锁相环测试适配器,基于ATE测试系统V93000,其特征在于,用于适配数字锁相环MC74HC4046,包括:连接器、继电控制器以及电容电阻阵列;所述连接器与测试系统母版相连;所述电容电阻阵列与被测器件相连;所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容,与所述被测器件相连。
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