[实用新型]一种半导体元器件检测装置有效
| 申请号： | 201820171247.3 | 申请日： | 2018-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN207764344U | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 刘德猛 | 申请（专利权）人： | 苏州本之智能系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人： | 关家强 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测量技术领域，公开了一种半导体元器件检测装置，包括：底座、支架、X向移动机构、Y向移动机构、相机、传送机构、载盘和取件机构，所述X向移动机构通过支架固定于底座上，所述Y向移动机构滑动设置于X向移动该机构上，所述相机通过固定架滑动设置于Y向移动机构上，所述传送机构设置于底座上，所述载盘放置于传送机构上，所述取件机构设置于固定架上；所述取件机构包括第一气缸和吸头，所述第一气缸设置于固定架上，所述吸头在第一气缸的驱动下上下移动。本实用新型具有检测效率高、节省人力成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 传送机构 取件机构 固定架 气缸 底座 半导体元器件 本实用新型 滑动设置 检测装置 吸头 相机 测量技术领域 人力成本 上下移动 支架固定 载盘 支架 驱动 检测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体元器件检测装置，其特征在于，包括：底座、支架、X向移动机构、Y向移动机构、相机、传送机构、载盘和取件机构，所述X向移动机构通过支架固定于底座上，所述Y向移动机构滑动设置于X向移动该机构上，所述相机通过固定架滑动设置于Y向移动机构上，所述传送机构设置于底座上，所述载盘放置于传送机构上，所述取件机构设置于固定架上；所述取件机构包括第一气缸和吸头，所述第一气缸设置于固定架上，所述吸头在第一气缸的驱动下上下移动。
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