[实用新型]一种100G光电子器件测试装置

摘要

本实用新型公开了一种100G光电子器件测试装置，包括输送带和滑座，所述输送带的上部中心固定连接有放置槽，且输送带的上部两侧固定连接有导柱，所述滑座设置在输送带的上方，所述滑座的下表面滑动安装有滑块，所述滑块的下部固定安装有气缸，所述气缸的下端固定连接有固定板，所述固定板的下部固定连接有导套和固定柱，且固定板的下部中心固定安装有测试探针，所述固定柱的上部套接有弹簧，且固定柱的下部滑动套接有压套。通过在输送带上设置导柱，同时在固定板的两侧设置与导柱配合的导套，使得测试探针插针准确；通过在输送带上设置放置槽，将光电子器件准确放置在放置槽内，便于实现自动化在线测试。

主权项

1.一种100G光电子器件测试装置，包括输送带（2）和滑座（11），其特征在于：所述输送带（2）的上部中心固定连接有放置槽（4），且输送带（2）的上部两侧固定连接有导柱（3），所述滑座（11）设置在输送带（2）的上方，所述滑座（11）的下表面滑动安装有滑块（9），所述滑块（9）的下部固定安装有气缸（8），所述气缸（8）的下端固定连接有固定板（7），所述固定板（7）的下部固定连接有导套（6）和固定柱（12），且固定板（7）的下部中心固定安装有测试探针（14），所述固定柱（12）的上部套接有弹簧（13），且固定柱（12）的下部滑动套接有压套（15）。