[实用新型]自动光学检查系统有效

专利信息
申请号: 201820775685.0 申请日: 2018-05-23
公开(公告)号: CN208283289U 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 吴武成;徐铭聪;张耀中 申请(专利权)人: 技高工业股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;H05K3/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 徐秋平
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种自动光学检查系统,包括:影像撷取设备、插破设备、识别模块等,可透过影像撷取设备与识别模块,来识别具有电路的电路基板上是否存在不良品标记,若检查发现电路基板上存在有不良品标记时,则透过刀具将电路基板的电路插破,以破坏电路基板的电路特性,而可有效防止存在不良品标记的电路基板被误用。
搜索关键词: 电路基板 不良品标记 自动光学检查系统 影像撷取设备 电路 本实用新型 电路特性 可透过 刀具 检查 发现
【主权项】:
1.一种自动光学检查系统,用于检查至少一电路基板上是否存在一不良品标记,其特征在于,所述电路基板具有一电路,所述自动光学检查系统包括:一第一真空吸座,所述第一真空吸座具有至少一第一真空吸嘴,所述第一真空吸嘴用于提供一第一真空吸力;一影像撷取设备,所述影像撷取设备具有一取像头与一取像环境,所述取像头撷取所述取像环境内的影像;一识别模块,所述识别模块用于对所述取像头所撷取的影像进行识别;一插破设备,所述插破设备具有一刀具与一插破环境,所述刀具可在所述插破环境内执行一插破作业;一输送工作台,所述输送工作台可在所述取像环境与所述插破环境之间行进;以及一控制单元,协同所述第一真空吸座、所述影像撷取设备、所述识别模块、所述插破设备及所述输送工作台执行以下动作:令所述第一真空吸嘴接近所述电路基板,使所述第一真空吸嘴对所述电路基板提供所述第一真空吸力而吸取所述电路基板;令所述第一真空吸嘴带动所述电路基板至所述输送工作台,而后,令所述第一真空吸嘴停止对所述电路基板提供所述第一真空吸力;令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述取像环境,而后,令所述取像头撷取所述电路基板的影像,接着,令所述识别模块根据所述取像头所撷取的影像,识别所述电路基板上是否存在所述不良品标记;以及当所述识别模块识别所述电路基板上存在所述不良品标记时,令所述输送工作台将所述电路基板输送至所述插破环境,而后,令所述刀具执行所述插破作业而插破所述电路基板的所述电路,以破坏所述电路基板的电路特性,而防止存在所述不良品标记的所述电路基板被误用。
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