[实用新型]半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 201820776588.3 申请日: 2018-05-23
公开(公告)号: CN208422905U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 吴欢欢;陈向东;杨晶;柯樊 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L23/49;G01R19/00
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 范芳茗;刘静
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请公开了一种半导体封装结构,该半导体封装结构包括:功率模块,功率模块具有从封装体表面伸出的功率引脚;以及电流测量模块,位于功率引脚附近且与功率引脚隔开,电流测量模块用于检测流过功率引脚的电流,其中,电流测量模块包括:磁性元件,其为具有开口与中间区域的半包围结构,磁性元件围绕功率引脚,用于聚集在功率引脚周围由电流产生的磁通;检测元件,具有检测部件与测量引脚,检测部件位于磁性元件的开口处,并与测量引脚的第一端相连,用于根据磁通产生电流的检测信号;以及管脚部件,管脚部件的第一端用于外部电连接,第二端与测量引脚的第二端固定连接。
搜索关键词: 功率引脚 半导体封装结构 电流测量模块 磁性元件 引脚 检测 功率模块 管脚部件 测量 磁通 半包围结构 封装体表面 电流产生 检测信号 中间区域 第一端 电连接 开口处 隔开 开口 伸出 外部 申请
【主权项】:
1.一种半导体封装结构,包括:功率模块,所述功率模块具有从封装体表面伸出的功率引脚;以及电流测量模块,位于所述功率引脚附近且与所述功率引脚隔开,所述电流测量模块用于检测流过所述功率引脚的电流,其中,所述电流测量模块包括:磁性元件,其为具有开口与中间区域的半包围结构,所述磁性元件围绕所述功率引脚,用于聚集在所述功率引脚周围由所述电流产生的磁通;检测元件,具有检测部件与测量引脚,所述检测部件位于所述磁性元件的开口处,并与所述测量引脚的第一端相连,用于根据所述磁通产生所述电流的检测信号;以及管脚部件,所述管脚部件的第一端用于外部电连接,第二端与所述测量引脚的第二端固定连接。
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