[实用新型]一种测试探针装置及具有测试探针装置的测试系统有效
| 申请号： | 201820824886.5 | 申请日： | 2018-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN208421014U | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 聂远;马金刚;张明;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族光电设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人： | 陈琳 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试探针技术领域，具体涉及一种测试探针装置。所述测试探针装置包括至少两根探针，以及与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头。本实用新型还涉及一种测试系统。通过设置至少两根探针，设置与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头，减少探针头与外部待测材料的接触面积，使探针头与尺寸较小或有缺陷的待测材料充分接触，提高测试精度，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 测试探针装置 待测材料 探针头 本实用新型 探针固定块 测试系统 点接触 外部 测试探针 测试效率 充分接触 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测试探针装置，其特征在于：所述测试探针装置包括至少两根探针，以及与每一所述探针下部固定连接的探针固定块，每一所述探针的上部均设有用于与外部待测材料点接触的探针头。
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