[实用新型]三维存储器件有效

专利信息
申请号: 201821056305.4 申请日: 2018-07-04
公开(公告)号: CN208589444U 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 刘峻 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11551
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种在三维存储器件的阶梯区形成接触孔的方法,包括以下步骤:提供半导体结构,半导体结构具有阶梯区,阶梯区具有多个阶梯结构,每个阶梯结构包括从上到下交替堆叠的至少一介质层和至少一导电层;从各阶梯结构的至少一导电层被暴露的侧壁去除一部分导电层材料,以形成相对于相邻的介质层的凹陷;在阶梯区覆盖绝缘层,绝缘层填充各凹陷;去除阶梯区上表面的绝缘层和介质层,以暴露各阶梯结构顶部的第一导电层,同时保留位于各凹陷的绝缘层;在各阶梯结构顶部的第一导电层上形成第二导电层;以及在各阶梯结构上形成接触孔。本实用新型通过加厚阶梯区的导电层的厚度,为接触孔的刻蚀提供了更大的裕量,从而降低了接触孔刻蚀穿通的概率。
搜索关键词: 阶梯结构 阶梯区 接触孔 绝缘层 导电层 介质层 凹陷 三维存储器件 半导体结构 第一导电层 刻蚀 去除 本实用新型 导电层材料 第二导电层 覆盖绝缘层 从上到下 交替堆叠 加厚 上表面 暴露 侧壁 穿通 裕量 填充 概率 保留
【主权项】:
1.一种三维存储器件,其特征在于包括阶梯区,所述阶梯区具有多个阶梯结构,每个阶梯结构包括从上到下交替堆叠的至少一栅极层和至少一介质层,其中在任意两个相邻阶梯结构中,第一阶梯结构顶部的第一栅极层的上表面高度,高于第二阶梯结构底部的介质层的下表面高度,第一阶梯结构顶部的第一栅极层与第二阶梯结构中的栅极层电绝缘,所述第一阶梯结构低于所述第二阶梯结构,所述第一栅极层上连接有接触部。
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