[实用新型]一种晶片分选设备有效
| 申请号： | 201821262371.7 | 申请日： | 2018-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN208840015U | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 蒋振声;威廉·比华;李小菊 | 申请（专利权）人： | 应达利电子股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 欧志明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福永街道凤凰社区腾丰一路*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种晶片分选设备，包括数码转盘、送料装置、定位装置、性能检测探头、移位装置、控制器以及至少一个分选盒，数码转盘划分为多个晶片放置区域，送料装置将待分选的晶片依次输送到旋转的数码转盘上，定位装置确定待分选的晶片在数码转盘上的对应的晶片放置区域，并将该区域设为目标区域，性能检测探头检测目标区域晶片的性能，控制器根据性能检测结果控制移位装置将目标区域上的晶片分选到对应的分选盒中。通过上述各元件的配合，不仅提高了分选的速度，同时降低了分选的错误率，从而有效提高了分选过程的分选效率。 | ||
| 搜索关键词： | 分选 数码转盘 目标区域 晶片 定位装置 分选设备 晶片放置 送料装置 性能检测 移位装置 控制器 分选盒 探头 种晶 性能检测结果 本实用新型 晶片分选 错误率 检测 配合 | ||
【主权项】：
1.一种晶片分选设备，其特征在于，包括：数码转盘(1)、送料装置(2)、定位装置、性能检测探头(3)、移位装置、控制器以及至少一个分选盒(4)，所述数码转盘(1)、定位装置、性能检测探头(3)及移位装置均与所述控制器电连接；所述数码转盘(1)按照预置的转动方向持续转动，所述送料装置(2)、性能检测探头(3)以及至少一个分选盒(4)按数码转盘(1)的预置转动方向围绕所述数码转盘(1)依次排布，且送料装置(2)、性能检测探头(3)以及至少一个分选盒(4)均不随所述数码转盘(1)转动；所述数码转盘(1)划分为多个晶片放置区域，并能实时将各个所述晶片放置区域所转动到的位置信息传送给所述控制器；所述送料装置(2)将晶片依次输送到所述数码转盘(1)的周缘上，所述定位装置检测晶片在所述数码转盘(1)上的对应的所述晶片放置区域，将检测到的对应的所述晶片放置区域定义为目标区域，并将检测到的所述目标区域的信息发送给控制器；所述性能检测探头(3)检测目标区域上的晶片的性能，并将性能检测结果发送给控制器；所述控制器根据性能检测结果控制所述移位装置将所述目标区域上的晶片分选到对应的分选盒(4)中。
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