[实用新型]一种用于光强度探测的光电桥有效

专利信息
申请号: 201821291501.X 申请日: 2018-08-11
公开(公告)号: CN208520479U 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 中山科立特光电科技有限公司
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528458 广东省中*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种用于光强度探测的光电桥,包括热敏感线,所述热敏感线的左右两侧设置有正/负电极,热敏感线的中部还设置有电极,所述热敏感线上还设置有孔洞,所述孔洞内填充有金属纳米颗粒;所述正/负电极与基准电源的正/负电极电连接,电阻R1、电阻R2串联后两端与所述基准电源正/负电极电连接,检流计的一端与电极电连接,检流计的另一端与电阻R1、电阻R2串联处电连接;该用于光强度探测的光电桥,虽然也用到电信号,但通过设置有标准光,利用电桥的原理,可以消除掉因环境因素造成电信号变化所造成的监测误差,使得该用于光强度探测的光电桥不受电信号变化的影响。
搜索关键词: 光强度探测 负电极 热敏感 电阻 电连接 孔洞 电信号变化 基准电源 检流计 串联 金属纳米颗粒 电极电连接 环境因素 监测误差 左右两侧 标准光 电极 电桥 填充
【主权项】:
1.一种用于光强度探测的光电桥,其特征在于:包括热敏感线(1),所述热敏感线(1)的左右两侧设置有正/负电极(4),热敏感线(1)的中部还设置有电极(5),所述热敏感线(1)上还设置有孔洞(2),所述孔洞(2)内填充有金属纳米颗粒(3);所述正/负电极(4)与基准电源的正/负电极电连接,电阻R1、电阻R2串联后两端与所述基准电源正/负电极电连接,检流计(7)的一端与电极(5)电连接,检流计(7)的另一端与电阻R1、电阻R2串联处电连接。
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