[实用新型]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201821402329.0 | 申请日： | 2018-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN209148833U | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 李晓龙;王连生;赵荣杰 | 申请（专利权）人： | 中国神华能源股份有限公司;神华神东煤炭集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人： | 崔华 |
| 地址： | 100011 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换。本实用新型解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 分压电阻 电源输入接口 芯片测试装置 电源 本实用新型 芯片测试座 被测芯片 电源连接 转换开关 低电位 高电位 同相端 电阻 输出指示灯 输入电位 拨码器 电压表 反相端 串接 反相 矿企 两路 生产成本 串联 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。
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