[实用新型]一种芯粒测试装置有效
| 申请号： | 201821514511.5 | 申请日： | 2018-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN209070070U | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王元;蔡家豪;陈辉;邓庆武;邱智中;蔡吉明 | 申请（专利权）人： | 安徽三安光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 241000 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉一种芯粒测试装置，用于测量芯粒的光、电性能参数，其至少包括机架、放置芯粒的具有导电功能的导电板、积分球收光器和CCD扫描仪、第一寻边器和第二寻边器、显示器和光纤，所述第一寻边器中设置有用于直接接触电极的探针，所述第二寻边器中探针的端部设置有一光反射装置。本实用新型通过对点测芯粒增加光反射装置，增强测点的光强，提高点测准确性和点测速度。 | ||
| 搜索关键词： | 寻边器 本实用新型 光反射装置 测试装置 芯粒 种芯 电性能参数 导电功能 测量芯 导电板 积分球 收光器 中探针 电极 测点 光强 探针 显示器 光纤 | ||
【主权项】：
1.一种芯粒测试装置，用于测量芯粒的光、电性能参数，其至少包括机架、放置芯粒的具有导电功能的导电板、积分球收光器和CCD扫描仪、第一寻边器和第二寻边器、显示器和光纤，所述导电板设置于机架上，所述积分球收光器和CCD扫描仪设置于所述导电板的上方，第二寻边器和第二寻边器分别设置于导电板的两侧，所述CCD扫描仪与所述积分球收光器相连，所述光纤连接所述显示器和所述积分球收光器，其特征在于：所述第一寻边器中设置有用于直接接触电极的探针，所述第二寻边器末端设置有一支撑杆，支撑杆的另一端部设置有一光反射装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽三安光电有限公司，未经安徽三安光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201821514511.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种二极管改进型测试片
- 下一篇：IGBT老化测试电路
