[实用新型]一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台有效
申请号: | 201821523192.4 | 申请日: | 2018-09-18 |
公开(公告)号: | CN208721595U | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 何佳龙;龙继东;李杰;彭宇飞;杨振;刘平;王韬;李喜;董攀;蓝朝晖;郑乐;刘尔祥;赵伟;杨洁;石金水 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
主分类号: | G01N23/2204 | 分类号: | G01N23/2204 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 高俊 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台,包括载台本体,所述载台本体包括样品安装段、绝缘段及连接段,所述样品安装段与连接段通过绝缘段串联,且所述绝缘段作为样品安装段与连接段之间的绝缘部件;还包括设置在样品安装段上的法拉第筒。该样品测试载台可以方便准确地测定入射脉冲电子信号,降低被测信号受到的干扰,从而提高介质材料二次电子发射系数的测量准确度。 | ||
搜索关键词: | 样品安装 二次电子发射系数 介质材料 样品测试 绝缘段 连接段 测量 载台 脉冲电子信号 准确度 被测信号 法拉第筒 绝缘部件 载台本体 台本体 入射 串联 | ||
【主权项】:
1.一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台,包括载台本体(12),其特征在于,所述载台本体(12)包括样品安装段(3)、绝缘段(4)及连接段,所述样品安装段(3)与连接段通过绝缘段(4)串联,且所述绝缘段(4)作为样品安装段(3)与连接段之间的绝缘部件;还包括设置在样品安装段(3)上的法拉第筒(13)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院流体物理研究所,未经中国工程物理研究院流体物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821523192.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。