[实用新型]半导体结构有效

专利信息
申请号: 201821529359.8 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN208674114U 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 王秉国;宋海;李磊 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 董琳
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型涉及一种半导体结构,所述半导体结构包括衬底;位于所述衬底表面的存储堆叠结构;贯穿所述存储堆叠结构至所述衬底表面的栅线隔槽;填充于所述栅线隔槽中的半导体层,所述半导体层中掺杂有用于减小所述半导体层晶粒大小的掺杂原子。上述方法形成的半导体层晶粒较小,能够提高半导体结构的性能。
搜索关键词: 半导体结构 半导体层 晶粒 衬底表面 堆叠结构 隔槽 栅线 存储 本实用新型 掺杂原子 衬底 减小 填充 掺杂 贯穿
【主权项】:
1.一种半导体结构,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底表面的存储堆叠结构;贯穿所述存储堆叠结构至所述衬底表面的栅线隔槽;填充于所述栅线隔槽中的由非晶态转变而成的多晶态半导体层,所述半导体层中掺杂有用于减小所述半导体层晶粒大小的掺杂原子。
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