[实用新型]反相器及GOA电路有效
申请号: | 201821605866.5 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN208903642U | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 余华伦 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种反相器,包括:第一薄膜晶体管,包括:第一基板;至少一第一缓冲层,形成于所述第一基板上;以及第一多晶硅层,形成于所述至少一第一缓冲层上的一部分;以及第二薄膜晶体管,包括:第二基板;至少一第二缓冲层,形成于所述第二遮光层上;以及第二多晶硅层,形成于所述至少一第二缓冲层上的一部分。所述第一薄膜晶体管进一步包括第一遮光层形成于所述第一基板及所述至少一第一缓冲层之间,及/或所述第二薄膜晶体管进一步包括第二遮光层形成于所述第二基板及所述至少一第二缓冲层之间。还提供一种GOA电路。 | ||
搜索关键词: | 缓冲层 薄膜晶体管 第一基板 遮光层 第二基板 多晶硅层 反相器 | ||
【主权项】:
1.一种反相器,用于GOA电路,其特征在于,所述反相器包括:第一薄膜晶体管,包括:第一基板;至少一第一缓冲层,形成于所述第一基板上;第一多晶硅层,形成于所述至少一第一缓冲层上的一部分;第一栅极绝缘层,形成于所述至少一第一缓冲层上以及所述第一多晶硅层上;以及第一栅极,形成于所述第一栅极绝缘层上;以及第二薄膜晶体管,包括:第二基板;至少一第二缓冲层,形成于所述第二基板上;第二多晶硅层,形成于所述至少一第二缓冲层上的一部分;第二栅极绝缘层,形成于所述至少一第二缓冲层上以及所述第二多晶硅层上;以及第二栅极,形成于所述第二栅极绝缘层上,其中所述第一薄膜晶体管进一步包括第一遮光层形成于所述第一基板及所述至少一第一缓冲层之间,及/或所述第二薄膜晶体管进一步包括第二遮光层形成于所述第二基板及所述至少一第二缓冲层之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201821605866.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。