[实用新型]测试装置有效

专利信息
申请号: 201821607524.7 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN208921835U 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 袁礼君;阚梓瑄
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开涉及测试技术领域,尤其涉及一种测试装置。所述装置包括:测试基板,用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试,以获取所述集成电路的测试数据;解析镜头,与所述测试基板相对设置,用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码,以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。本公开减少了扫描时间,提高了扫描效率,从而提高了识别码的验证效率,同时节省了时间成本和人力成本。
搜索关键词: 识别码 集成电路 测试基板 测试数据 测试装置 解析 扫描 测试技术领域 解析结果 人力成本 扫描效率 时间成本 相对设置 封装体 处理器 验证 测试 镜头
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,包括:测试基板,用于放置集成电路并对所述集成电路进行测试,以获取所述集成电路的测试数据;解析镜头,与所述测试基板相对设置,用于扫描所述集成电路的封装体上的识别码,以使处理器解析所述识别码并根据解析结果与所述测试数据判断所述识别码的正确性。
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