[实用新型]一种新型光刻版有效
申请号: | 201821656828.2 | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN208922055U | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 马祖光;郭光辉 | 申请(专利权)人: | 济南晶硕电子有限公司 |
主分类号: | G03F1/72 | 分类号: | G03F1/72;G03F7/20 |
代理公司: | 济南瑞宸知识产权代理有限公司 37268 | 代理人: | 徐健 |
地址: | 250217 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种新型光刻版,包括光刻版本体;所述的光刻版本体设有光刻图像区,光刻图像区边缘设有防漏电结构,所述的防漏电结构为梯形边缘,梯形边缘设有最高边缘,最高边缘两端设有对称的阶梯边缘,分别为左侧阶梯边缘和右侧的阶梯边缘,左侧阶梯边缘和右侧阶梯边缘形状、结构相互对位镜像。通过对光刻版图形重新设计,在最边缘位置原有图形的基础上,增加一规则图形。通过增加的规则图形,避免了光刻版中正常图形边缘一圈造成的漏电打火现象。 | ||
搜索关键词: | 阶梯边缘 光刻版 光刻 规则图形 梯形边缘 防漏电 图像区 漏电 边缘位置 打火现象 正常图形 重新设计 对位 刻版 对称 | ||
【主权项】:
1.一种新型光刻版,包括光刻版本体;其特征在于:所述的光刻版本体设有光刻图像区,光刻图像区边缘设有防漏电结构,所述的防漏电结构为梯形边缘,梯形边缘设有最高边缘,最高边缘两端设有对称的阶梯边缘,分别为左侧阶梯边缘和右侧的阶梯边缘,左侧阶梯边缘和右侧阶梯边缘形状、结构相互对位镜像。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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