[实用新型]用于测量物体变形的装置有效
| 申请号： | 201821872754.6 | 申请日： | 2018-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN209102014U | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 唐小波;李久坤 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 杨胜军 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提一种用于测量物体变形的装置，它包括：设置有用于测量距离的刻度的基臂；设置在所述基臂上并且能够发射可见光束的光源；设置在所述光源前侧的光调节器，所述光调节器能够调节所述光源发射的可见光束的大小和/或强度；以及安装在所述基臂上并且能够相对于所述基臂移动的移动臂,所述移动臂具有相对于所述基臂垂直地延伸以便能够与所述基臂上的刻度对齐的至少一个平坦面。根据本实用新型的用于测量物体变形的装置使得测量物体是否变形变得简单易行，与物体相关的设备也无需中断作业，确保与物体相关的设备具有较高的作业效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基臂 物体变形 测量 本实用新型 光调节器 可见光束 移动臂 光源 测量距离 光源发射 作业效率 对齐 垂直地 平坦面 变形 中断 发射 延伸 移动 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量物体变形的装置(1)，其特征在于，所述用于测量物体变形的装置(1)包括：设置有用于测量距离的刻度的基臂(3)；设置在所述基臂(3)上并且能够发射可见光束(L)的光源(5)；设置在所述光源(5)前侧的光调节器(7)，所述光调节器(7)能够调节所述光源(5)发射的可见光束(L)的大小和/或强度；以及安装在所述基臂(3)上并且能够相对于所述基臂(3)移动的移动臂(11),所述移动臂(11)具有相对于所述基臂(3)垂直地延伸以便能够与所述基臂(3)上的刻度对齐的至少一个平坦面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司，未经英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201821872754.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种应用于翘曲检测的玻璃垫块装置
- 下一篇：一种基于光纤光栅的防碰撞监测装置
