[实用新型]测试治具有效

专利信息
申请号: 201821886204.X 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN209247835U 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 张毅;李元昕;张薇薇 申请(专利权)人: 新华三技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 苏胜
地址: 310052 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种测试治具,属于芯片测试领域,包括插座和多个限位框,插座设置有多根双头针,每个限位框均能与插座可拆卸连接,每个限位框均设置有用于安装芯片的安装腔,安装腔的配置使得至少部分双头针可选择性地与芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。本测试治具具有应用范围广的特点,可以有效降低芯片测试的成本。
搜索关键词: 测试治具 限位框 插座 芯片测试 安装腔 双头针 芯片 可拆卸连接 应用范围广 电性接触 引脚 配置
【主权项】:
1.一种测试治具,其特征在于,包括插座和多个限位框,所述插座设置有多根双头针,每个所述限位框均能与所述插座可拆卸连接,每个所述限位框均设置有用于安装芯片的安装腔,所述安装腔的配置使得至少部分所述双头针可选择性地与所述芯片的至少部分引脚一一对应且电性接触。
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