[实用新型]快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪有效
| 申请号： | 201821976787.5 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN209311676U | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 刘岩;刘虓;周子钰;马瑞达;刘子溦;郭紫涵;杜雨珂 | 申请（专利权）人： | 成都安的光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/88 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 张玲;代平 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种快速标校激光瞄准点的光学系统及激光远程异物清除仪，其中，所述光学系统可以利用射入成像探测器的部分激光标校激光发射瞄准点；本实用新型所提供的光学系统及激光远程异物清除仪，在进行瞄准点的标校时，不需要长距离的场地或专用的标校场地，而且标校的过程更简单、便捷，标校精度高，可以有效避免现有技术中的弊端。 | ||
| 搜索关键词： | 标校 光学系统 异物清除 激光 本实用新型 激光瞄准 瞄准点 成像探测器 激光发射 专用的 射入 | ||
【主权项】：
1.一种快速标校激光瞄准点的光学系统，其特征在于，包括角反射器、分光镜、斩波器以及成像探测器，所述角反射器用于将部分激光反射入成像探测器，并在成像探测器上形成光斑，且射入成像探测器的激光的光轴与用于打击目标的激光的光轴共轴，所述成像探测器记录所述光斑的位置，并作为瞄准点；在进行标校时，斩波器打开，透过分光镜的激光全部或部分通过斩波器并射入角反射器，角反射器用于使透过分光镜的激光反射回分光镜，并经分光镜反射后，射入成像探测器，成像探测器接收经分光镜反射回来的激光并形成光斑。
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