[实用新型]一种提高正向光的LED芯片有效

专利信息
申请号: 201822006986.X 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN209183566U 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 许英朝;蔡立鹤 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/06;H01L33/10;H01L33/40;H01L33/00
代理公司: 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 代理人: 杨玉芳
地址: 361024 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型提供了一种提高正向光的LED芯片,涉及半导体发光器件机制备技术领域,包括:衬底、N型GaN层、MQW层、P型GaN层、上电极、下电极以及金属反射墙;其中,N型GaN层未被MQW层以及P型GaN层覆盖的第一表面区域与MQW层以及P型GaN层形成台阶结构;上电极位于P型GaN层上;金属反射墙位于N型GaN层的第一表面区域上,且包围MQW层与P型GaN层,以形成一墙体;下电极位于N型GaN层的第一表面区域上,且位于金属反射墙以及MQW层之间。通过切割道区域内设有金属反射墙,金属反射墙制备于台阶结构上,形成墙体包围MQW层与P型GaN层。保证了有源发光层MQW层向外辐射的光,经由金属反射墙的反射作用,增加了光的反射,从而提高正向出光。
搜索关键词: 反射 金属 第一表面 台阶结构 下电极 正向光 电极 墙体 半导体发光器件 本实用新型 包围 反射作用 发光层 切割道 衬底 正向 制备 辐射 覆盖 保证
【主权项】:
1.一种提高正向光的LED芯片,其特征在于,包括:衬底;N型GaN层,位于所述衬底上;MQW层,位于所述N型GaN层上;P型GaN层,位于所述MQW层上;其中,所述N型GaN层未被MQW层以及P型GaN层覆盖的第一表面区域与MQW层以及P型GaN层形成台阶结构;上电极,位于所述P型GaN层上;金属反射墙,位于所述N型GaN层的第一表面区域上,且包围所述MQW层与所述P型GaN层,以形成一墙体;下电极,位于所述N型GaN层的第一表面区域上,且位于所述金属反射墙与所述MQW层之间;其中,所述下电极的高度与所述金属反射墙的高度一致。
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