[实用新型]用于芯片推拉力测量的简易测试系统有效
| 申请号： | 201822056724.4 | 申请日： | 2018-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN209198293U | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 黄寓洋 | 申请（专利权）人： | 苏州苏纳光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04 |
| 代理公司： | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人： | 王锋 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，包括：承载台，其至少用以安置固定待测芯片；运动导向和角度调节机构，其与所述的承载台连接，并至少能够使所述承载台于多个平面方向内运动并能够调节承载台倾斜角度；推拉力测量机构，其至少用于测量待测芯片推拉力值；视觉监测对准机构，其至少用于使推拉力测量机构的探针与安置于承载台上的待测芯片对准连接；底座，所述运动导向和角度调节机构、推拉力测量机构以及视觉监测对准机构均可拆卸地安装在所述底座上。本实用新型结构简单、制作和测试成本低，使用和操作灵活、简便，能够可以实现芯片推拉力的手动测量。 | ||
| 搜索关键词： | 推拉力 承载台 测量机构 待测芯片 角度调节机构 本实用新型 对准机构 简易测试 视觉监测 运动导向 测量 芯片 底座 测试成本 平面方向 手动测量 可拆卸 安置 探针 对准 承载 灵活 制作 | ||
【主权项】：
1.一种用于芯片推拉力测量的简易测试系统，其特征在于包括：承载台，其至少用以安置固定待测芯片；运动导向和角度调节机构，其与所述的承载台连接，并至少能够使所述承载台于多个平面方向内运动并能够调节承载台倾斜角度；推拉力测量机构，其至少用于测量待测芯片推拉力值；视觉监测对准机构，其至少用于使推拉力测量机构的探针与安置于承载台上的待测芯片对准连接；底座，所述运动导向和角度调节机构、推拉力测量机构以及视觉监测对准机构均可拆卸地安装在所述底座上。
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