[实用新型]光模块的测试系统

摘要

本实用新型公开了一种光模块的测试系统，其中，光模块的测试系统包括误码收发主芯片、至少两个光接口、至少两个电接口、测试板、测试仪器和单片机；所述光接口与所述误码收发主芯片连接，所述误码收发主芯片、所述测试板及所述测试仪器均与所述单片机连接。本实用新型通过设置多个光接口及多个电接口，光接口用于插接SFP/SFP+光发射模块，电接口用于连接射频线缆，进而连接测试板；通过单片机给本地参考时钟、误码收发主芯片及测试仪器提供控制指令，实现同时对多只光模块/光器件的光发射性能或光接收性能的测试，实现多元化的测试方案，有效简化测试机台的设备配置，节约成本。

主权项

1.一种光模块的测试系统，其特征在于，包括误码收发主芯片、至少两个光接口、至少两个电接口、测试板、测试仪器和单片机；所述光接口与所述误码收发主芯片连接，所述误码收发主芯片、所述测试板及所述测试仪器均与所述单片机连接；所述误码收发主芯片，用于接收本地参考时钟提供的所需数据速率及误码码型，且对所述所需数据速率进行倍频处理得到特定数据速率，并对所述误码码型进行设置得到特定码型；将所述特定数据速率搭配所述特定码型得到波信号，且将波信号经所述光接口输出至第一待测件，或经所述电接口输出至第二待测件；所述光接口，用于插接第一待测件，其中，所述第一待测件为SFP/SFP+光发射模块；所述电接口，用于连接射频线缆，进而连接所述测试板；所述测试板，用于插拔第二待测件；其中，所述第二待测件为非SFP/SFP+光发射模块或光发射器件；所述测试仪器，用于测试所述第一待测件或第二待测件的光发射性能；所述单片机，用于给所述本地参考时钟、所述误码收发主芯片及所述测试仪器提供控制指令；所述单片机，还用于记录光发射性能测试的数据。