[实用新型]CSP薄板坯结晶器检修校准仪器有效
| 申请号： | 201822115799.5 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN209246975U | 公开（公告）日： | 2019-08-13 |
| 发明（设计）人： | 刘忠军;张志克;黄桂生;张学军;蔡继宗 | 申请（专利权）人： | 邯郸钢铁集团有限责任公司;河钢股份有限公司邯郸分公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/24 |
| 代理公司： | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人： | 曹淑敏 |
| 地址： | 056015 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种CSP薄板坯结晶器检修校准仪器，属于冶金行业CSP薄板结晶器技术领域。技术方案是：测量基座（3）固定在标准仪支架（1）顶端的B面上，测量仪（13）固定在测量基座（3）上，测量基座（3）上设有微调板支架（19），标准仪支架（1）的A面上设有上下布置的基准块A（5）、基准块B（6）和基准块C（7），测量触头A（8）、测量触头B（9）和测量触头C（10）分别固定在上下布置的基准块A（5）、基准块B（6）和基准块C（7）上，靠近标准仪支架（1）的顶端的标准仪支架（1）的A面和B面上分别设有一个测量定位器（15）。本实用新型的有益效果是：能够高质量完成结晶器的对中，提高检修效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基准块 支架 标准仪 测量触头 薄板坯结晶器 检修 本实用新型 上下布置 校准仪器 测量 测量定位器 结晶器技术 冶金行业 测量仪 结晶器 微调板 | ||
【主权项】：
1.一种CSP薄板坯结晶器检修校准仪器，其特征在于：包含标准仪支架（1）、测量微调板（4）、基准块A（5）、基准块B（6）、基准块C（7）、测量触头A（8）、测量触头B（9）、测量触头C（10）、测量仪（13）、测量定位器（15）和微调板支架（19），标准仪支架（1）的一侧为A面，与A面相对的另一侧为B面，测量基座（3）固定在标准仪支架（1）顶端的B面上，测量仪（13）固定在测量基座（3）上，测量基座（3）上设有微调板支架（19），微调板支架（19）上设有与测量仪（13）相配合的测量微调板（4），标准仪支架（1）的A面上设有上下布置的基准块A（5）、基准块B（6）和基准块C（7），测量触头A（8）、测量触头B（9）和测量触头C（10）分别固定在上下布置的基准块A（5）、基准块B（6）和基准块C（7）上，靠近标准仪支架（1）的顶端的标准仪支架（1）的A面和B面上分别设有一个测量定位器（15）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于邯郸钢铁集团有限责任公司;河钢股份有限公司邯郸分公司，未经邯郸钢铁集团有限责任公司;河钢股份有限公司邯郸分公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201822115799.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种金属端子的斜开口尺寸检测装置
- 下一篇：一种钢化玻璃尺寸检测用定位吸盘
