[实用新型]一种用于测试存储卡的测试板及测试设备有效

专利信息
申请号: 201822208602.2 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN209418157U 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 胡宏辉;梁广庆;李小强 申请(专利权)人: 深圳市江波龙电子股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请提供一种测试板,用于测试存储卡。该测试板包括电路板和多个测试电路,其中多个测试电路设置于电路板上且彼此相互独立,每个测试电路均与一个待测存储卡耦接,以向待测存储卡提供测试信号。本申请还提供了一种测试设备。本申请中,通过电路板上设置多个测试电路,提高存储卡测试效率。
搜索关键词: 测试电路 存储卡 电路板 测试板 测试设备 申请 存储卡测试 测试 测试信号 耦接
【主权项】:
1.一种测试板,用于测试存储卡,其特征在于,包括:电路板;以及多个测试电路,设置于所述电路板上且彼此相互独立,每个所述测试电路均与一个待测存储卡耦接,以向所述待测存储卡提供测试信号。
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