[发明专利]平面度测定方法以及销高度调整方法有效

专利信息
申请号: 201880001042.3 申请日: 2018-02-21
公开(公告)号: CN109073351B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 金内伸朗 申请(专利权)人: 株式会社阿迪泰克工程
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28;G01C9/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 高培培;车文
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够简便地测定大量的销的上端所构成的假想面那样的面的平面度的实用的技术。在使在具有平坦的上表面以及下表面且厚度均匀的测定板(5)上安装有水平仪(6)的测定单元(4)载置在大量的销(3)中的相邻的三根销(3)上的状态下,利用水平仪(6)对正交的两个水平方向上的测定板(5)的倾斜进行测定,对各三根销(3)依次进行该步骤。在第二次以后的步骤中,重复选择此前选择过的销(3)中的一个并且针对所有的销(3)对测定板(5)的倾斜进行测定。根据测定板(5)的倾斜,将上端处于最高的位置的销(3)与上端处于最低的位置的销(3)之间的高度的差异作为平面度而计算。
搜索关键词: 平面 测定 方法 以及 高度 调整
【主权项】:
1.一种平面度测定方法,将水平方向的配置为已知且垂直延伸的大量的销的上端的高度方向的位置的不同作为该大量的销的前端所构成的假想面的平面度进行测定,其特征在于,所述平面度测定方法是使用测定单元的方法,所述测定单元包括具有平坦的上表面及下表面且厚度均匀的测定板和安装于测定板之上的水平仪,所述平面度测定方法是包括三点测定步骤的方法,在所述三点测定步骤中,选择大量的销中的相邻的三根销,在使测定单元载置于选择出的三根销之上的状态下,通过水平仪对正交的两个水平方向上的测定板的倾斜进行测定,所述平面度测定方法是通过依次对各三根销进行三点测定步骤来测定平面度的方法,第二次以后的三点测定步骤是重复选择此前选择过的销中的一根而进行测定的步骤,所述平面度测定方法是通过依次进行三点测定步骤而针对所有的销通过水平仪对测定板的倾斜进行测定的方法,所述平面度测定方法包括:根据各三点测定步骤中的所述两个水平方向上的测定板的倾斜,来算出上端处于最高的位置的销与上端处于最低的位置的销之间的该高度的差异的步骤。
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