[发明专利]聚倍半硅氧烷被覆硅纳米粒子或其烧结体及其制造方法、锂离子电池用负极活性物质、锂离子电池用负极以及锂离子电池在审
| 申请号： | 201880006431.5 | 申请日： | 2018-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN110191861A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 高野义人;木崎哲朗;山田浩纲;近藤正一;高桥彬 | 申请（专利权）人： | 捷恩智株式会社;捷恩智石油化学株式会社 |
| 主分类号： | C01B33/113 | 分类号： | C01B33/113;C01B33/02;H01M4/36;H01M4/48 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张晓霞;臧建明 |
| 地址： | 日本东京千代田区大手町二丁*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明为一种聚倍半硅氧烷被覆硅纳米粒子或其烧结体，其包含硅纳米粒子及聚倍半硅氧烷，且具有Si‑H键，利用透射电子显微镜(TEM)所观察到的所述聚倍半硅氧烷的厚度为1nm以上且30nm以下，所述硅纳米粒子的体积基准平均粒径超过10nm且未满500nm，并且不含粒径为1000nm以上的粒子，所述聚倍半硅氧烷被覆所述硅纳米粒子，并化学键结在所述硅纳米粒子的表面。 | ||
| 搜索关键词： | 硅纳米粒子 聚倍半硅氧烷 锂离子电池用 烧结体 透射电子显微镜 负极活性物质 锂离子电池 化学键结 平均粒径 体积基准 负极 粒径 粒子 观察 制造 | ||
【主权项】：
1.一种聚倍半硅氧烷被覆硅纳米粒子或其烧结体，其包含：硅纳米粒子，体积基准平均粒径超过10nm且未满500nm，并且不含粒径为1000nm以上的粒子；及聚倍半硅氧烷，被覆所述硅纳米粒子，并化学键结在所述硅纳米粒子的表面，且具有Si‑H键，利用透射电子显微镜(TEM)所观察到的所述聚倍半硅氧烷的厚度为1nm以上且30nm以下。
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