[发明专利]用于对样品进行显微检查的显微镜和方法有效
申请号: | 201880008086.9 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN110235045B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 亚历山大·盖杜克;多米尼克·施特尔;约翰尼斯·温特罗;沃尔克·普施 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 杨靖;韩毅 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于利用显微镜对样品进行显微检查的方法,显微镜包括物镜和图像传感器,图像传感器用于转换由物镜成像到图像传感器上的图像。显微镜的视场能通过选择图像传感器的区段来改变。在方法的步骤中,利用显微镜拍摄样品的至少一个部分区域的初始图像(01),为此在显微镜上选择第一视场。分析初始图像(01),以便获知至少两个有区别的对部分区域成像的视场,其中,通过对部分区域成像的视场中的每个视场对初始图像(01)的部分区域成像。针对所获知的对部分区域成像的视场中的每个视场,拍摄样品的部分区域的图像(03)。本发明还涉及一种用于对样品进行显微检查的显微镜。 | ||
搜索关键词: | 用于 样品 进行 显微 检查 显微镜 方法 | ||
【主权项】:
1.用于利用显微镜对样品(02)进行显微检查的方法,所述显微镜包括物镜(20)和图像传感器(21),其中,所述显微镜的图像传感器侧的视场能通过选择所述图像传感器(21)的区段来改变;其中,所述方法包括以下步骤:‑利用所述显微镜拍摄所述样品(02)的至少一个部分区域的初始图像(01),为此在所述显微镜上选择第一视场;‑通过分析所述初始图像(01)来获知至少两个有区别的对部分区域成像的视场,其中,通过所述对部分区域成像的视场中的每个视场对所述初始图像(01)的部分区域成像;而且‑针对所获知的对部分区域成像的视场中的每个视场拍摄所述样品(02)的部分区域的图像(03)。
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