[发明专利]分离膜组件的检查方法及分离膜组件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201880012739.0 申请日: 2018-02-26
公开(公告)号: CN110430934B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 清水克哉;市川真纪子;谷岛健二;萩尾健史 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: B01D65/10 分类号: B01D65/10;B01D63/06;B01D69/10;B01D69/12;B01D71/02
代理公司: 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 代理人: 王轶;郑雪娜
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 分离膜组件(10)的检查方法具备在沸石膜(12)的一次侧封入检查用气体的封入工序。检查用气体的动态分子直径大于沸石膜(12)的细孔径的1.07倍。检查用气体具有如下特性,即,将分离膜结构体(1)在25℃、0.1MPaG的检查用气体中静置了60分钟的情况下,沸石膜(12)的CO2气体透过速度降低率低于10%。
搜索关键词: 分离 组件 检查 方法 制造
【主权项】:
1.一种分离膜组件的检查方法,该分离膜组件具备:具有多孔质基材和沸石膜的分离膜结构体、以及组装有所述分离膜结构体的壳体,所述分离膜组件的检查方法的特征在于,具备封入工序,该工序中,在所述沸石膜的一次侧封入检查用气体,所述检查用气体的动态分子直径大于所述沸石膜的细孔径的1.07倍,所述检查用气体具有如下特性,即,将所述分离膜结构体在25℃、0.1MPaG的所述检查用气体中静置了60分钟的情况下,所述沸石膜的CO2气体透过速度降低率低于10%。
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