[发明专利]分离膜组件的检查方法及分离膜组件的制造方法有效
申请号: | 201880012739.0 | 申请日: | 2018-02-26 |
公开(公告)号: | CN110430934B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 清水克哉;市川真纪子;谷岛健二;萩尾健史 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | B01D65/10 | 分类号: | B01D65/10;B01D63/06;B01D69/10;B01D69/12;B01D71/02 |
代理公司: | 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 | 代理人: | 王轶;郑雪娜 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
分离膜组件(10)的检查方法具备在沸石膜(12)的一次侧封入检查用气体的封入工序。检查用气体的动态分子直径大于沸石膜(12)的细孔径的1.07倍。检查用气体具有如下特性,即,将分离膜结构体(1)在25℃、0.1MPaG的检查用气体中静置了60分钟的情况下,沸石膜(12)的CO |
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搜索关键词: | 分离 组件 检查 方法 制造 | ||
【主权项】:
1.一种分离膜组件的检查方法,该分离膜组件具备:具有多孔质基材和沸石膜的分离膜结构体、以及组装有所述分离膜结构体的壳体,所述分离膜组件的检查方法的特征在于,具备封入工序,该工序中,在所述沸石膜的一次侧封入检查用气体,所述检查用气体的动态分子直径大于所述沸石膜的细孔径的1.07倍,所述检查用气体具有如下特性,即,将所述分离膜结构体在25℃、0.1MPaG的所述检查用气体中静置了60分钟的情况下,所述沸石膜的CO2气体透过速度降低率低于10%。
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