[发明专利]用于检查资产的方法和装置有效
| 申请号： | 201880014486.0 | 申请日： | 2018-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN110352346B | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 克拉克·亚历山大·本多尔 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/89 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张丰豪 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于检查旋转资产的方法和装置(101)。在一个实施方案中，所述检查装置(101)可以包括纹理图案投射系统(168)，所述纹理图案投射系统用于将纹理图案(166)投射到对象表面上以提供额外的表面细节从而提高立体图像匹配，在另一实施方案中，所述检查装置(101)可以被配置成在旋转对象在不同的照明模式下位于选定位置或触发位置时保存所述对象的选定图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 资产 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查资产的装置，所述装置包括：探头，所述探头包括：具有第一视场的第一图像传感器和具有第二视场的第二图像传感器，所述第一图像传感器和所述第二图像传感器被配置成获得立体图像，一个或多个检查模式光发射器，所述一个或多个检查模式光发射器被配置成在检查模式期间提供所述资产的照明，以及纹理图案投射系统，所述纹理图案投射系统用于将纹理图案投射于所述资产上，所述纹理图案投射系统包括一个或多个测量模式光发射器，所述一个或多个测量模式光发射器被配置成在测量模式期间提供所述资产的照明，纹理图案，所述纹理图案定位成靠近所述一个或多个测量模式光发射器，以及纹理图案光学系统，所述纹理图案光学系统用于将所述纹理图案投射到所述资产上，其中所述纹理图案位于所述一个或多个测量模式光发射器与所述纹理图案光学系统之间。
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