[发明专利]半导体存储元件、半导体存储装置、半导体系统和控制方法在审

专利信息
申请号: 201880021407.9 申请日: 2018-02-19
公开(公告)号: CN110476248A 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 塚本雅则 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: H01L27/1159 分类号: H01L27/1159;G11C11/22
代理公司: 11257 北京正理专利代理有限公司 代理人: 张雪梅<国际申请>=PCT/JP2018
地址: 日本国神奈川*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: [技术问题]为了提供一种允许以稳定的方式写入信息的半导体存储元件,半导体存储装置,半导体系统和控制方法。[技术方案]提供一种半导体存储元件,其包括:第一晶体管,信息写入到所述第一晶体管中,所述第一晶体管具有至少部分地包括铁电材料的栅极绝缘膜;以及第二晶体管,其通过源极或漏极的一个连接到所述第一晶体管的源极或漏极。在写入信息和擦除信息时所述第一晶体管的阈值电压小于0V。
搜索关键词: 晶体管 半导体存储元件 写入信息 漏极 源极 半导体存储装置 半导体系统 栅极绝缘膜 擦除信息 铁电材料 信息写入 阈值电压
【主权项】:
1.一种半导体存储元件,其包括:/n第一晶体管,其具有至少部分地包括铁电材料的栅极绝缘膜,所述第一晶体管是写入信息的晶体管;以及/n第二晶体管,其在源极和漏极的一个处连接到所述第一晶体管的源极或漏极,/n所述第一晶体管在写入信息时具有小于0V的阈值电压,在擦除信息时具有小于0V的阈值电压。/n
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