[发明专利]光电二极管仿真器、测试电路和仿真光电二极管的方法有效
| 申请号： | 201880021700.5 | 申请日： | 2018-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN110476071B | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | M·拉杰;Y·弗兰斯;K-Y·常 | 申请（专利权）人： | 赛灵思公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H03K17/78 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李兴斌 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种示例光电二极管仿真器电路(202)包括：第一电流源电路(M1，M2，Iref)；第一和第二晶体管(M4，M5)，其源极耦合在一起并且耦合到第一电流源电路的输出，第二晶体管的漏极耦合到第一节点(N2)；第三晶体管(M7)，耦合在第一晶体管的漏极和复制负载电路(302)之间；第二电流源电路(M3，M6)，耦合到第一节点；电容器(C1)，耦合在第一节点和电气地之间；以及第四晶体管(M8)，其源极耦合到第一节点，并且漏极提供输出电流。 | ||
| 搜索关键词： | 光电二极管 仿真器 测试 电路 仿真 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电二极管仿真器电路，包括：/n第一电流源电路；/n第一晶体管和第二晶体管，其源极耦合在一起并且耦合到所述第一电流源电路的输出，所述第二晶体管的漏极耦合到第一节点；/n第三晶体管，耦合在所述第一晶体管的漏极和复制负载电路之间；/n第二电流源电路，耦合到所述第一节点；/n电容器，耦合在所述第一节点与电气地之间；以及/n第四晶体管，其源极耦合到所述第一节点，并且漏极提供输出电流。/n
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