[发明专利]用于成像装置部件诊断的设备和背景特异性信号模式分析有效
申请号: | 201880024789.0 | 申请日: | 2018-03-05 |
公开(公告)号: | CN110506218B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | F·乌勒曼;G·M·普雷斯;I·格雷斯林;C·芬德科里;O·利普斯;C·J·H·A·布洛姆 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01R33/36 | 分类号: | G01R33/36;G16H40/40 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兆君 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 当预测诸如磁共振(MR)成像设备(12)的成像设备中的需要的部件服务时,诸如线圈电压、锁相丢失(PLL)事件等的部件参数被采样以监测系统部件。电压样本根据它们到线圈插入和拔出事件的时间接近性而被过滤,以生成经过滤的数据集,所述经过滤的数据集被处理器(46)分析来确定是否传输故障报告。服务建议基于传输的报告而被接收,并且包括根本原因诊断和被输入到用户接口(50)的服务建议。 | ||
搜索关键词: | 用于 成像 装置 部件 诊断 设备 背景 特异性 信号 模式 分析 | ||
【主权项】:
1.一种便于基于部件信号分析来识别磁共振(MR)成像设备(12)中的即将来临的部件故障的系统(10),包括:/nMR成像设备(12),其包括多个射频RF线圈(24、32、40);/n连接器(18),所述多个RF线圈被连接到所述连接器,分别在不同的时间被连接到功率源(14);/n处理器(46),其被配置为:/n针对所述多个RF线圈中的每个,监测至少一个RF线圈参数;/n通过根据至少一个预定义的度量来丢弃数据点而生成经过滤的数据集;/n基于所述经过滤的数据集来识别至少一个系统部件中的至少一个故障状况;/n传输所识别的至少一个故障状况的报告;/n接收包括指示所识别的至少一个故障状况的根本原因的信息和部件服务建议的信号;并且/n在用户接口(UI)(50)上输出所述部件服务建议。/n
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