[发明专利]存储器单元的竖向延伸串的阵列及形成存储器阵列的方法在审
申请号: | 201880027649.9 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN110574161A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 古尔特杰·S·桑胡;R·J·希尔;J·A·斯迈思 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11524;H01L27/11529;H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11573 |
代理公司: | 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种存储器单元的竖向延伸串的阵列包括交替的绝缘层级与字线层级的垂直堆叠。所述字线层级具有对应于控制栅极区域的终端。个别存储器单元的电荷存储材料沿着所述字线层级的所述控制栅极区域中的个别者竖向延伸且并不沿着所述绝缘层级竖向延伸。所述个别存储器单元的电荷阻挡区域横向沿着所述字线层级的所述个别控制栅极区域竖向延伸,通过所述电荷阻挡区域阻挡所述个别控制栅极区域与所述电荷存储材料之间的电荷迁移。沟道材料沿着所述堆叠竖向延伸且通过绝缘电荷通路材料与所述电荷存储材料横向间隔开。存储器单元的所述竖向延伸串中的个别者的所有所述电荷存储材料从存储器单元的所述个别竖向延伸串的所有所述绝缘电荷通路材料横向向外。本发明揭示包含方法实施例的其它实施例。 | ||
搜索关键词: | 竖向延伸 存储器单元 层级 电荷存储材料 控制栅极 电荷 字线 绝缘 通路材料 阻挡区域 垂直堆叠 电荷迁移 方法实施 沟道材料 横向间隔 交替的 堆叠 终端 阻挡 | ||
【主权项】:
1.一种形成存储器阵列的方法,其包括:/n形成交替的第一层级与第二层级的垂直堆叠,所述第一层级包括第一材料,所述第二层级包括第二材料,开口竖向延伸穿过所述第一及第二层级;/n在所述开口中形成第三材料的垂直间隔区域,在所述开口中所述第三材料的所述区域中的个别者沿着所述第二层级中的所述第二材料竖向延伸;/n在所述开口中相对于所述第一层级选择性地竖向沿着所述第三材料的所述间隔区域形成电荷存储材料;/n在所述开口中竖向沿着所述第二层级中的所述电荷存储材料形成电荷通路材料;/n在所述开口中竖向沿着所述电荷通路材料且竖向沿着所述第一层级形成沟道材料;及/n用传导材料来代替所述第二层级中的所述第二材料中的至少一些且在所述开口中的个别者中形成存储器单元的竖向延伸串;所述存储器单元个别地包括包含所述传导材料的控制栅极区域、电荷阻挡区域、所述电荷存储材料、所述电荷通路材料及所述沟道材料。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的