[发明专利]低插入力连接器组件及半导体部件试验装置

摘要

本发明的低插入力连接器组件由相互可脱卸地结合的第1连接器和第2连接器形成,并且，便于组装第1连接器与第2连接器，能够防止接触不良，连接器之间的组装牢固，提高了尺寸安全性，容易组装和制造连接器。本发明涉及一种半导体部件试验装置，由如下结构形成：基板(30)，其为形成有多个基板固定销孔的板状；多个连接部件(140)，其形成有排列成多个列的多个触销，并通过固定销和结合部件(146)与基板结合；多个连接器，其形成有排列成多个列的多个接线插脚，并可脱卸地与连接部件(140)结合；所述连接部件形成有连接部件主体(141)，并且，在连接部件主体(141)上相互分隔地排列形成有多个列的触销，并且，在所述连接部件主体(141)上沿其长度方向形成有多个主体固定销孔(1418)；所述结合部件(146)和连接部件(140)隔着基板(30)形成于两侧，所述固定销(147)的头部挂接在主体固定销孔(1418)，顺次地贯通主体固定销孔(1418)和基板固定销孔(30a)，而端部被挂接在结合部件(146)的销挂接部，从而，连接部件(140)能够与基板(30)结合。

主权项

1.一种低插入力连接器组件，其特征在于，/n由可相互脱卸地结合的第1连接器(100)和第2连接器(200)形成；/n在所述第1连接器(100)的向第2连接器(200)的方向形成有截面为长方形的凹陷的插入凹槽部(101)，以使第2连接器(200)的连接器插入部(211)插入,并且，在所述插入凹槽部(101)的长度方向两侧形成由上下方向贯通形成的第1连接器结合孔(123g)，从而，借助于向第1连接器结合孔(123g)插入的安装螺栓(B)与测试头(A)结合，并且，在所述插入凹槽部(101)形成有向第2连接器(200)突出并由长度方向延伸的突出部，还由宽幅方向分隔而形成有多个由长度方向排列的多个销(142)形成的销模块(140)，并且，驱动轴(160)可旋转地形成于由所述宽幅方向分隔的销(142)之间，并向宽幅方向加压外侧销(142),所述突出部的侧面与插入凹槽部(101)的内面分隔而形成，形成销模块(140)的销(142)向突出部的宽幅方向两侧裸露而沿着长度方向排列；/n在所述第2连接器(200)形成有连接器插入部(211)，该连接器插入部向所述插入凹槽部(101)插入，截面为长方形，并且，在所述连接器插入部(211)形成有向第1连接器(100)开口而插入所述突出部的连接器凹陷部(210a)，并且，在所述连接器凹陷部(210a)的宽幅方向两侧形成有沿着长度方向排列的多个销(220)，从而，当所述连接器插入部(211)向插入凹槽部(101)插入，而使突出部向连接器凹陷部(210a)插入时，所述第1连接器(100)的销(142)和第2连接器(200)的销(220)由宽幅方向相对地排列。/n