[发明专利]用于在超高分辨率面板中侦测缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201880029780.9 申请日: 2018-06-18
公开(公告)号: CN110770592B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 劳尔·阿尔伯特·马汀;理查德·诺里欧·布莱思 申请(专利权)人: 奥宝科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 林斯凯
地址: 以色列*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于检验电路的系统,这些电路包含彼此相互间隔开的多个导体,该系统包含:一电压驱动器,运行以对该多个导体中的数个导体施加不同电压,这些导体彼此在空间上邻近;一传感器,运行以感测由该系统相对于这些电路所界定的一测试区的至少一个特性,该传感器缺乏足以在这些导体其中的单独者的位置之间进行区分的空间分辨率;以及一缺陷指示器,因应于该传感器的至少一个输出而判断这些导体中是否存在一缺陷。
搜索关键词: 用于 超高 分辨率 面板 侦测 缺陷 方法
【主权项】:
1.一种用于检验电路的系统,这些电路包含彼此相互间隔开的多个导体,其中该系统包含:/n一电压驱动器,运行以对该多个导体中的数个导体施加不同电压,这些导体彼此在空间上邻近;/n一传感器,运行以感测由该系统相对于这些电路所界定的一测试区的至少一个特性,该传感器缺乏足以在这些导体其中的单独者的位置之间进行区分的空间分辨率;以及/n一缺陷指示器,因应于该传感器的至少一个输出而判断这些导体中是否存在一缺陷。/n
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