[发明专利]电器件晶片在审
申请号: | 201880037556.4 | 申请日: | 2018-06-06 |
公开(公告)号: | CN111052604A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | V·迈斯特;U·勒斯勒尔 | 申请(专利权)人: | RF360欧洲有限责任公司 |
主分类号: | H03H9/02 | 分类号: | H03H9/02;H01L41/08 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 张曦 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种具有功能性器件结构的器件晶片,包括:作为载体晶片的半导体衬底(SU);压电层(PL),布置在载体晶片上;以及第一类型和第二类型的功能性器件结构(DS),通过压电层(PL)上的结构化的金属化部实现。空间电荷区域被形成在载体晶片的顶表面附近,以在第一类型和第二类型的功能性器件结构(DS)之间产生增强的电隔离。 | ||
搜索关键词: | 器件 晶片 | ||
【主权项】:
暂无信息
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