[发明专利]位移检测装置在审
| 申请号： | 201880057124.X | 申请日： | 2018-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN111065881A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 伊藤吉博 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01F23/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 韩聪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在磁传感器中，将第一温度下的来自磁铁的施加磁场和检测值的相关函数中的来自磁铁的施加磁场为0时的检测值设为第一偏移值，将比上述第一温度高的第二温度下的来自磁铁的施加磁场和检测值的相关函数中的来自磁铁的施加磁场为0时的检测值设为第二偏移值。多个磁传感器包含以相互相反的极性检测来自磁铁的施加磁场的一组磁传感器。该一组磁传感器中的一者是从第二偏移值减去第一偏移值的值为正的第一磁传感器，另一者是从第二偏移值减去第一偏移值的值为负的第二磁传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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