[发明专利]半导体存储器装置在审
| 申请号： | 201880063389.0 | 申请日： | 2018-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN111149162A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 堂野千秋 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10;G11C7/22 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供用于使用集成式测试数据路径进行存储器I/O测试的技术。在实例中，一种用于操作存储器设备的输入/输出数据路径的方法可包含：在第一模式期间，在所述存储器设备的第一通道的数据端子处经由第一数据路径从所述第一通道的存储器阵列接收非测试信息；在第一测试模式期间，在所述第一通道的所述数据端子处从第一额外数据路径接收第一测试信息，所述第一额外数据路径耦合所述第一通道与所述存储器设备的第二通道，并且其中所述存储器设备的接口裸片包含所述第一数据路径及所述额外数据路径。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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