[发明专利]图案化过程的优化流程在审
申请号: | 201880066747.3 | 申请日: | 2018-10-05 |
公开(公告)号: | CN111213090A | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 段福·史蒂芬·苏 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F1/24 | 分类号: | G03F1/24;G03F1/36;G03F1/70;G03F7/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 闫红 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于改善光刻过程的方法,所述光刻过程用于使用具有照射系统和投影光学装置的光刻投影设备将图案形成装置图案的一部分成像至衬底上,所述方法包括:(1)获得对由所述投影光学装置对辐射的投影进行模型化的模拟模型,其中所述模拟模型模型化所述投影光学装置中的遮蔽的效应;和基于所述模拟模型,对所述图案形成装置图案的所述部分进行配置,和/或(2)获得对由投影光学装置对辐射的投影进行模型化的模拟模型,其中所述模拟模型模型化由所述投影光学装置产生的辐射的变形缩小率,和在考虑变形制造规则或变形制造规则比率的情况下,基于所述模拟模型对所述图案形成装置图案的所述部分进行配置。 | ||
搜索关键词: | 图案 过程 优化 流程 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备