[发明专利]集成电路裕度测量和故障预测设备有效
| 申请号： | 201880085236.6 | 申请日： | 2018-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN111587378B | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | E·兰德曼;S·科恩;Y·大卫;E·法尼;I·温特罗布 | 申请（专利权）人： | 普罗泰克斯公司 |
| 主分类号： | G01R31/3193 | 分类号： | G01R31/3193;G01R31/52;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 袁策 |
| 地址： | 以色*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开一种半导体集成电路(IC)，其包括信号路径组合器，该信号路径组合器包括输出路径和多个输入路径。该IC包括延迟电路，该延迟电路具有的输入电连接到输出路径，该延迟电路将输入信号延迟可变延迟时间以输出延迟的信号路径。该IC可以包括电连接到输出路径的第一存储电路和电连接到延迟的信号路径的第二存储电路。该IC包括比较电路，该比较电路将信号路径组合器的输出与延迟的信号进行比较，其中该比较电路包括比较输出，该比较输出以比较数据信号的形式提供到至少一个缓解电路。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测量 故障 预测 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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