[发明专利]检查装置、PTP包装机以及检查装置的校正方法有效
申请号: | 201880087558.4 | 申请日: | 2018-09-07 |
公开(公告)号: | CN111630369B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 田口幸弘 | 申请(专利权)人: | CKD株式会社 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;B65B57/10;G01N21/359;G01N21/85 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 刘卓然 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种检查装置、PTP包装机和检查装置的校正方法,可谋求利用分光分析的检查所相关的检查精度的提高。检查装置(22)包括:照明装置(52),其可对片剂(5)照射近红外光;摄像装置(53),其可对从片剂(5)反射的反射光进行分光,对其进行摄像,其中,根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据进行分析处理。检查装置(22)对基准分光图像数据进行规定的运算处理,该基准分光图像数据是事先对规定的基准板所相关的分光光谱进行摄像而获得的,通过求出各像素行的每个的特性,把握摄像元件的波长灵敏度特性。接着,据此计算基准分光图像数据的与各像素相对应的补偿值。在检查时,根据与该像素相对应的补偿值,对针对检查对象物摄像所获得的检查分光图像数据的各像素的亮度值进行补偿处理。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 ptp 装机 以及 校正 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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