[发明专利]半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201880091961.4 申请日: 2018-04-03
公开(公告)号: CN111937257B 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 楠政谕;藏本恭介;西田武弘 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01S5/022 分类号: H01S5/022
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 具有以下工序:准备载体;将具有发光条带区域和相邻区域的激光芯片搭载于焊料之上,使该激光芯片位于该第1端面的正上方和该第2端面的正上方;以及使加热后的该焊料在其浸润扩展由于该毛刺而受到限制的同时,在该第1端面或者该第2端面的方向浸润扩展而形成延伸部,该延伸部将该激光芯片与该阻挡层直接连接,该载体具有:载体基板,其具有第1端面和第2端面;电极层,其设置于该载体基板之上;阻挡层,其设置于该电极层之上,在俯视观察时仅达到至该载体基板的端面中的该第1端面或者该第2端面的至少一者;毛刺,其位于该阻挡层的侧面,比该阻挡层高;以及该焊料,其在该阻挡层之上,在俯视观察时从该载体基板的全部端面退后地设置。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
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