[发明专利]可测试性设计的适应性微电子电路的应用在审
| 申请号： | 201880098721.7 | 申请日： | 2018-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112969927A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | L·科斯基宁;N·古普塔;J·西蒙森 | 申请（专利权）人： | 米尼码处理器公司 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30;G06F11/22;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 可藉由让运作参数假定运作参数数值而配置微电子电路的效能。运作方法包含选择性设定该微电子电路进入与该微电子电路的正常运作模式不同的测试模式、以及利用该测试模式输入由测试输入数值所组成的测试输入信号进入该微电子电路内的一个或更多个适应性处理路径。适应性处理路径包含处理逻辑和缓存器电路，处理逻辑和缓存器电路配置成从输入至处理逻辑和缓存器电路的输入数值产生输出数值。这种适应性处理路径的效能可藉由让运作参数假定运作参数数值而加以配置。该方法包含让该一个或更多个适应性处理路径根据输入至它们的个别测试输入数值形成测试输出数值、以及藉由收集由该一个或更多个适应性处理路径所给定的该测试输出数值形成一组测试输出信号。该方法包含检查该组测试输出信号、以及根据该检查形成测试结果、以及使用该测试结果以选择和设定用于该运作参数的运作参数数值。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 设计 适应性 微电子 电路 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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