[发明专利]一种检测紧缩场反射面性能的方法和装置在审
| 申请号： | 201910006982.8 | 申请日： | 2019-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN109471057A | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | 张良聪;姜涌泉;刘芳;刘飞亮 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 张沫;周娇娇 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测紧缩场反射面性能的方法和装置，所述方法的一实施方式包括：在紧缩场静区横截面进行采样获取二维电场分布数据；对所述二维电场分布数据进行二维傅立叶逆变换，获得测量信号的平面波谱分布数据；确定电磁波在从采样点到反射面的传播过程中的空间变换函数，并利用所述空间变换函数对所述平面波谱分布数据进行处理，得到反射面的平面波谱分布数据；对所述反射面的平面波谱分布数据进行二维傅立叶变换，得到反射面的二维电场分布数据；依据所述反射面的二维电场分布数据检测反射面性能。该实施方式能够获取反射面的二维电场分布数据从而有效检测紧缩场反射面的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 分布数据 反射 二维电场 平面波谱 紧缩场 反射面 方法和装置 种检测 二维傅立叶变换 傅立叶逆变换 空间变换函数 变换函数 测量信号 传播过程 所述空间 有效检测 电磁波 采样点 采样 二维 静区 检测 | ||
【主权项】：
1.一种检测紧缩场反射面性能的方法，其特征在于，包括：在紧缩场静区横截面进行采样获取二维电场分布数据；对所述二维电场分布数据进行二维傅立叶逆变换，获得测量信号的平面波谱分布数据；确定电磁波在从采样点到反射面的传播过程中的空间变换函数，并利用所述空间变换函数对所述平面波谱分布数据进行处理，得到反射面的平面波谱分布数据；对所述反射面的平面波谱分布数据进行二维傅立叶变换，得到反射面的二维电场分布数据；依据所述反射面的二维电场分布数据检测反射面性能。
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