[发明专利]一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统有效
| 申请号： | 201910008587.3 | 申请日： | 2019-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN109580532B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 代青 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G01N21/35;G01N21/3563;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统，涉及显示技术领域，能够无损的对显示面板的受损位置进行检测；该显示面板为包括封装薄膜的显示面板，该封装检测方法包括：获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；基准显示面板中的封装薄膜未受损；根据多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；将第二太赫兹光谱数据与基准太赫兹光谱数据对比，获取待检测的显示面板的受损的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 封装 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板的封装检测方法，所述显示面板为包括封装薄膜的显示面板，其特征在于，所述封装检测方法包括：获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据；所述基准显示面板中的封装薄膜未受损；根据所述多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据，建立基准太赫兹光谱数据；获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据；将所述第二太赫兹光谱数据与所述基准太赫兹光谱数据对比，获取所述待检测的显示面板的受损的位置。
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