[发明专利]存储设备、非易失性存储设备以及存储设备的操作方法在审
申请号: | 201910009213.3 | 申请日: | 2019-01-04 |
公开(公告)号: | CN110008053A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 崔伸浩 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种存储设备,包括控制器和具有存储单元和参考存储单元的非易失性存储设备。所述控制器访问所述存储单元的第一存储单元,当访问所述第一存储单元失败时,从所述参考存储单元中读取与第一存储单元相关联的第一参考存储单元,取决于所述第一参考存储单元的读取结果确定坏区,并且将所述存储单元中的属于坏区的第二存储单元设置为坏存储单元。 | ||
搜索关键词: | 存储单元 参考存储单元 存储设备 非易失性存储设备 坏区 读取 第二存储单元 坏存储单元 控制器访问 读取结果 控制器 关联 失败 访问 | ||
【主权项】:
1.一种存储设备,包括:包括存储单元和参考存储单元的非易失性存储设备;以及控制器,其:访问所述存储单元中的第一存储单元,当对所述第一存储单元的访问失败时,读取所述参考存储单元中的与所述第一存储单元相关联的第一参考存储单元,根据所述第一参考存储单元的读取结果,确定从所述存储单元中的坏区,以及从所述存储单元中识别属于所述坏区的第二存储单元作为坏存储单元。
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